专利说明
该设备用于测量与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,常用于分析高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应、高聚物材料的结晶、熔融温度及热效应、高聚物材料的玻璃化温度等。
国别/设备制造商 | 美国TA仪器 |
加热/冷却方式 | 电加热/RCS制冷 |
工作温度范围 | -90~550℃ |
基线平直度(-50~300℃) | ≤ 10μW |
基线重现性(-50~300℃) | ≤ 20μW |
温度准确度 | ±0.05℃ |
焓值精度 | ±0.08% |
该设备用于测量与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,常用于分析高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应、高聚物材料的结晶、熔融温度及热效应、高聚物材料的玻璃化温度等。
国别/设备制造商 | 美国TA仪器 |
加热/冷却方式 | 电加热/RCS制冷 |
工作温度范围 | -90~550℃ |
基线平直度(-50~300℃) | ≤ 10μW |
基线重现性(-50~300℃) | ≤ 20μW |
温度准确度 | ±0.05℃ |
焓值精度 | ±0.08% |